一种用于测量光器件频率响应的装置和方法

摘要

本发明提供一种用于测量光器件频率响应的装置和方法。该装置包括：激光光源，用于产生连续式激光载波；检测光路，用于对所述激光载波进行调制生成第一光频梳，使第一光频梳通过待测光器件得到检测光梳，以将待测光器件的幅频响应和相频响应记录在检测光梳的梳齿上，使检测光梳变频为基带检测信号；基准光路，用于对所述激光载波进行调制生成第二光频梳，使第二光频梳变频为基带基准信号；采样处理模块，用于根据基带检测信号和基带基准信号进行采样，并计算待测光器件的幅频响应和相频响应。本发明在保证测量精度与带宽的同时保证测量速度，且同时获得待测器件的幅频与相频响应。

主权项

一种用于测量光器件频率响应的装置，其特征在于，包括：激光光源，用于产生连续式激光载波；检测光路，用于对所述激光载波进行调制生成第一光频梳，使第一光频梳通过待测光器件得到检测光梳，以将待测光器件的幅频响应和相频响应记录在检测光梳的梳齿上，使检测光梳变频为基带检测信号；基准光路，用于对所述激光载波进行调制生成第二光频梳，使第二光频梳变频为基带基准信号；采样处理模块，用于根据基带检测信号和基带基准信号进行采样，并计算待测光器件的幅频响应和相频响应。