发明名称 |
一种位移测量方法及系统 |
摘要 |
本发明提供了一种位移测量方法,该方法包括:在第一部件上进行编码,所述编码可对照射到所述编码上的光线衍射,形成衍射条纹;设定所述编码的码值与所述绝对位置的对应关系;当所述第一部件上的编码接收到光线照射时,扫描经所述第一部件上的编码衍射后的光线,得到第一信号;对所述第一信号进行解码,得到所述第一部件当前的绝对位置;分析所述第一部件的绝对位置的变化,得到所述第一部件的位移。通过光线实现位移的测量,测量精度更高,位移测量效果更好。 |
申请公布号 |
CN104930977A |
申请公布日期 |
2015.09.23 |
申请号 |
CN201510400240.5 |
申请日期 |
2015.07.09 |
申请人 |
成都华量传感器有限公司 |
发明人 |
杜军 |
分类号 |
G01B11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 |
代理人 |
饶钱 |
主权项 |
一种位移测量方法,其特征在于,该方法包括:在第一部件上进行编码,所述编码可对照射到所述编码上的光线衍射,形成衍射条纹;设定所述编码的码值与所述绝对位置的对应关系;当所述第一部件上的编码接收到光线照射时,扫描经所述第一部件上的编码衍射后的光线,得到第一信号;对所述第一信号进行解码,得到所述第一部件当前的绝对位置;分析所述第一部件的绝对位置的变化,得到所述第一部件的位移。 |
地址 |
610000 四川省成都市高新区合作路89号19栋13层13号 |