发明名称 一种位移测量方法及系统
摘要 本发明提供了一种位移测量方法,该方法包括:在第一部件上进行编码,所述编码可对照射到所述编码上的光线衍射,形成衍射条纹;设定所述编码的码值与所述绝对位置的对应关系;当所述第一部件上的编码接收到光线照射时,扫描经所述第一部件上的编码衍射后的光线,得到第一信号;对所述第一信号进行解码,得到所述第一部件当前的绝对位置;分析所述第一部件的绝对位置的变化,得到所述第一部件的位移。通过光线实现位移的测量,测量精度更高,位移测量效果更好。
申请公布号 CN104930977A 申请公布日期 2015.09.23
申请号 CN201510400240.5 申请日期 2015.07.09
申请人 成都华量传感器有限公司 发明人 杜军
分类号 G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人 饶钱
主权项 一种位移测量方法,其特征在于,该方法包括:在第一部件上进行编码,所述编码可对照射到所述编码上的光线衍射,形成衍射条纹;设定所述编码的码值与所述绝对位置的对应关系;当所述第一部件上的编码接收到光线照射时,扫描经所述第一部件上的编码衍射后的光线,得到第一信号;对所述第一信号进行解码,得到所述第一部件当前的绝对位置;分析所述第一部件的绝对位置的变化,得到所述第一部件的位移。
地址 610000 四川省成都市高新区合作路89号19栋13层13号
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