发明名称 |
一种履带式X光检测设备及物料分选装置 |
摘要 |
本发明提供一种履带式X光检测设备,包括X光射源(1)、探测器(2)、处理器、履带(10)以及剔除装置(20),所述X光射源(1)以及探测器(2)分别对立设置在履带(10)的两侧,所述探测器(2)距履带(10)的起始端的水平距离与探测器(2)距履带(10)的末端的水平距离的比等于或者大于1。本发明还提供一种物料分选装置。本发明提供的设备具有如下优点:增加了前端履带加速长度,使物料运行平稳以后才检测,从检测视点到剔除装置这段距离内,才不会发生偏移,或者是减少发生偏移,保证剔除异物的精准性,且物料的平稳能保证图像的清晰度,更利于识别,最终反映到剔除精度的提高。 |
申请公布号 |
CN104923486A |
申请公布日期 |
2015.09.23 |
申请号 |
CN201510395623.8 |
申请日期 |
2015.07.06 |
申请人 |
合肥美亚光电技术股份有限公司 |
发明人 |
陈原;刘宝莹;张昔峰;杨逃;张凯;李小哲 |
分类号 |
B07B13/14(2006.01)I;B07B13/00(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
B07B13/14(2006.01)I |
代理机构 |
合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 |
代理人 |
丁瑞瑞 |
主权项 |
一种履带式X光检测设备,包括X光射源(1)、探测器(2)、处理器、履带(10)以及剔除装置(20),所述X光射源(1)以及探测器(2)分别对立设置在履带(10)的两侧,其特征在于:所述探测器(2)距履带(10)的起始端的水平距离与探测器(2)距履带(10)的末端的水平距离的比等于或者大于1。 |
地址 |
230022 安徽省合肥市高新区望江西路668号 |