发明名称 | 非易失性存储器装置和存储装置及其操作方法 | ||
摘要 | 提供一种非易失性存储器装置和存储装置及其操作方法。根据示例实施例,一种操作存储装置的方法包括:使用存储器控制器读取工序能力指数;基于工序能力指数调节至少一个操作条件;根据调节的所述至少一个操作条件来操作至少一个非易失性存储器装置中的一个非易失性存储器装置。所述工序能力指数指示与将被操作的存储器单元相关联的结构如何偏离目标形状。 | ||
申请公布号 | CN104934067A | 申请公布日期 | 2015.09.23 |
申请号 | CN201510119045.5 | 申请日期 | 2015.03.18 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 金斗铉;金甫根;朴起台;韩真晚 |
分类号 | G11C16/26(2006.01)I | 主分类号 | G11C16/26(2006.01)I |
代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人 | 姜长星;尹淑梅 |
主权项 | 一种操作存储装置的方法,所述存储装置包括至少一个非易失性存储器装置和被配置为控制所述至少一个非易失性存储器装置的存储器控制器,每个非易失性存储器装置包括位于基板上的多个串,所述多个串与基板垂直并连接在位线和共源极线之间,所述方法包括:使用存储器控制器读取工序能力指数,所述工序能力指数指示与将被操作的存储器单元相关联的结构如何偏离目标形状;基于工序能力指数调节至少一个操作条件;根据调节的所述至少一个操作条件,操作所述至少一个非易失性存储器装置中的一个非易失性存储器装置。 | ||
地址 | 韩国京畿道水原市 |