发明名称 |
一种预对位调试方法 |
摘要 |
本申请公开了一种预对位调试方法,应用于一电子设备,包括:获取一预设电压值,预设电压值为置放在电子设备工作台上的一薄片与一厚片对应的第一电压值与第二电压值的平均电压值;检测获得第一操作,响应第一操作,根据预设电压值校正电子设备的第三电压值,使得第三电压值与预设电压值间的电压差在一预设电压范围内;检测厚片在电子设备工作台上的平边位置,获得第一位置信息,检测薄片在电子设备的工作台上的平边位置,获得第二位置信息;检测获得第二操作,响应第二操作,根据第一位置信息校正第二位置信息,使得校正后的第二位置信息与第一位置信息间的角度差在一预设角度范围内。 |
申请公布号 |
CN103869630B |
申请公布日期 |
2015.09.23 |
申请号 |
CN201210546702.0 |
申请日期 |
2012.12.14 |
申请人 |
北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
发明人 |
殷瑞腾 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01)I;G03F9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种预对位调试方法,其特征在于,应用于一电子设备,包括:获取一预设电压值,所述预设电压值为置放在所述电子设备的工作台上的一薄片对应的第一电压值与置放在所述电子设备的工作台上的一厚片对应的第二电压值的平均电压值;检测获得第一操作,响应所述第一操作,根据所述预设电压值校正所述电子设备的第三电压值,使得所述第三电压值与所述预设电压值之间的电压差在一预设电压范围内;检测所述厚片在所述电子设备的工作台上的平边位置,获得第一位置信息,检测所述薄片在所述电子设备的工作台上的平边位置,获得第二位置信息;检测获得第二操作,响应所述第二操作,根据所述第一位置信息校正所述第二位置信息,使得校正后的所述第二位置信息与所述第一位置信息之间的角度差在一预设角度范围内。 |
地址 |
100871 北京市海淀区成府路298号方正大厦9层 |