发明名称 氮化物半导体元件及其制造方法
摘要
申请公布号 TWI501425 申请公布日期 2015.09.21
申请号 TW101130845 申请日期 2012.08.24
申请人 创光科学股份有限公司 发明人 丹羽纪隆;稻津哲彦
分类号 H01L33/36 主分类号 H01L33/36
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种氮化物半导体元件,其特征为具备:下底构造部,被形成于前述下底构造部上的,至少具有n型AlGaN系半导体层与p型AlGaN系半导体层之元件构造部,被形成于前述n型AlGaN系半导体层上的n电极接触部,被形成于前述n电极接触部上的n电极垫部,以及被形成于前述p型AlGaN系半导体层上的p电极;前述n型AlGaN系半导体层之AlN莫耳分率为20%以上,前述n电极接触部,系以1层以上的金属层构成,前述p电极之全层的层积构造与前述n电极垫部之全层的层积构造,系完全相同的层积构造,于最上层有Au层,在比前述最上层更为下侧具有由导电性金属氧化物所构成的防止Au的扩散之Au扩散防止层的2层以上的共通层积构造。
地址 日本