| 摘要 |
Die Erfindung geht aus von einer Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilen (4) mit wenigstens einem Prüfsockel (1) mit Prüfkontakten (2), mit einem einem Nest (3), in dem wenigstens ein elektronisches Bauteil (4) platzierbar ist und mit wenigstens einer Reinigungseinheit (6, 7; 8, 9; 10, 7, 9) für die Prüfkontakte (2) des Prüfsockels (1), wobei das elektronische Bauteil (4) durch eine als Prüfhub ausführbare Relativbewegung zwischen Prüfsockel (1) und Nest (3) an die Prüfkontakte (2) des Prüfsockels (1) andrückbar und wieder von diesen abhebbar ist. Erfindungsgemäß ist die wenigstens eine Reinigungseinheit (6, 7; 8, 9; 10, 7, 9) so ausgestaltet, dass die Prüfkontakte (2) bei jedem Prüfhub mit der wenigstens einen Reinigungseinheit (6, 7; 8, 9; 10, 7, 9) in Kontakt kommen. |
