发明名称 | 一种面向ATE机台的高速测试系统及其加工方法 | ||
摘要 | 一种面向ATE机台的高速测试系统及其加工方法,测试系统包括测试子板与测试母板,测试母板上设置有弹簧针连接器阵列,测试子板上设置有测试插座;测试子板,弹簧针连接器阵列以及测试母板采用压合螺接的方式进行连接。加工方法首先将弹簧针压合到弹簧针连接器模组中;然后通过螺接方式将弹簧针连接器模组安装在金属基座预留的台阶状凹槽内;最后将贯穿整个测试系统高度的螺柱安装在金属基座上,且螺柱的两头分别独立螺接测试子板与测试母板,完成测试系统组装压合工作。本发明不仅能够保证测试系统的重复使用及维护,还能实现信号链路阻抗的高精度控制,保证测试系统高速信号的完整性。 | ||
申请公布号 | CN104914339A | 申请公布日期 | 2015.09.16 |
申请号 | CN201510316739.8 | 申请日期 | 2015.06.10 |
申请人 | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 | 发明人 | 张冰 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人 | 徐文权 |
主权项 | 一种面向ATE机台的高速测试系统,其特征在于:包括测试子板(1)与测试母板(2),测试母板(2)上设置有弹簧针连接器阵列(3),测试子板(1)上设置有测试插座(4);测试子板(1),弹簧针连接器阵列(3)以及测试母板(2)采用压合螺接的方式进行连接;待测器件通过测试子板(1)上的测试插座(4)完成测试子板(1)与待测器件的连接,然后再通过弹簧针连接器阵列(3)将测试子板(1)与测试母板(2)桥接,最后通过与机台资源相连的测试母板(2)实现信号及供电在待测器件与机台之间的交互,进而完成器件测试。 | ||
地址 | 710068 陕西省西安市太白南路198号 |