发明名称 |
一种3D磁传感器的制作方法 |
摘要 |
本发明揭示了一种3D磁传感器的制作方法,在半导体衬底上形成绝缘层后,制作绝缘层沟壑,然后依次沉积磁性材料层、TaN层、刻蚀阻挡层以及填充材料层和图案化的光刻胶层,然后对刻蚀阻挡层和部分TaN层进行垂直刻蚀,对剩余的TaN层进行各向同性刻蚀。本发明将现有技术中刻蚀TaN层和刻蚀阻挡层的工艺步骤改变为先对刻蚀阻挡层与部分TaN层进行垂直刻蚀,保证沟壑的形状平整,减少侧壁的粗糙度。然后使用较小的偏压功率对剩余的TaN层进行各向同性刻蚀,这种刻蚀方式可以使溅射的聚合物均匀分布,减少聚合物堆积,更有利于被刻蚀掉,从而达到消除聚合物沉积的目的,这样减少也就避免了对机台的污染,从而提高了工艺良率。 |
申请公布号 |
CN104916775A |
申请公布日期 |
2015.09.16 |
申请号 |
CN201510189257.0 |
申请日期 |
2015.04.17 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
张振兴;奚裴;熊磊 |
分类号 |
H01L43/12(2006.01)I;G01R33/09(2006.01)I |
主分类号 |
H01L43/12(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
一种3D磁传感器的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:提供一个衬底,在所述衬底上沉积绝缘层,并在绝缘层中制作沟壑,所述沟壑的深度小于所述绝缘层的厚度;步骤二:在所述绝缘层表面依次沉积磁性材料层、TaN层、刻蚀阻挡层;步骤三:在所述刻蚀阻挡层上沉积填充材料层,所述填充材料层填充沟壑;步骤四:在所述填充材料层上形成图案化的光刻胶层,所述图案化的光刻胶层定义磁阻层的位置,以所述图案化的光刻胶层为掩膜,刻蚀所述填充材料层;步骤五:以所述图案化的光刻胶层和填充材料层为掩膜,对刻蚀阻挡层和部分TaN层进行垂直刻蚀;步骤六:对剩余的TaN层进行各向同性刻蚀,偏压功率为20W~40W,气体流量为50sccm~150sccm;步骤七:去除所述图案化的光刻胶层,并清洗表面。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |