/ AN INTEGRATED CIRCUIT FOR TESTING USING A HIGH-SPEED INPUT/OUTPUT INTERFACE

摘要

검사를 위해 구성된 집적회로가 설명된다. 집적회로는 고속 입력/출력 인터페이스를 포함한다. 집적회로는 또한 고속 입력/출력 인터페이스에 커플링된 검사 제어기를 포함한다. 집적회로는 또한 검사 제어기에 커플링된 검사 회로를 포함한다. 검사 제어기는 고속 입력/출력 인터페이스로부터의 제어기 프로토콜 검사 정보에 기초하여 검사 회로를 제어한다.