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经营范围
发明名称
用于高速功能性测试的独立多晶片单元探测卡
摘要
申请公布号
TWI499782
申请公布日期
2015.09.11
申请号
TW102139770
申请日期
2013.11.01
申请人
汉民科技股份有限公司
发明人
赖鸿尉
分类号
G01R1/073
主分类号
G01R1/073
代理机构
代理人
陈达仁 台北市中山区长春路156号5楼
主权项
一种探测卡,该探测卡包含:一具有至少二连接布局之印刷电路板;及一透过该二连接布局的其中之一连接该印刷电路板的子板,该子板包含复数个测试单元模组,每一该测试单元模组具有一用于装上一受测元件的插槽,该测试单元模组更包含垂直与环绕设置于该插槽周边以及该子板上的复数个电路板;其中每一该连接布局系用于连接每一预定的子板。
地址
台北市大安区敦化南路2段38号14楼
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