| 发明名称 | 画素阵列基板检测方法及画素阵列基板检测装置 | ||
| 摘要 | |||
| 申请公布号 | TWI499788 | 申请公布日期 | 2015.09.11 |
| 申请号 | TW102115288 | 申请日期 | 2013.04.29 |
| 申请人 | 元太科技工业股份有限公司 | 发明人 | 刘全丰;黄振勋;黄霈霖;李锡麟;蔡振法;张永昇 |
| 分类号 | G01R31/308 | 主分类号 | G01R31/308 |
| 代理机构 | 代理人 | 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;叶璟宗 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 | |
| 主权项 | 一种画素阵列基板检测方法，包括：提供一画素阵列基板，该画素阵列基板包括多个画素单元；提供一光电检测元件；令该光电检测元件与该画素阵列基板接触；输入多个电气讯号至该画素阵列基板的该些画素单元与该光电检测元件；以及根据该光电检测元件的光学特性，判断该画素阵列基板的该些画素单元是否正常。 | ||
| 地址 | 新竹市科学工业园区力行一路3号 | ||