| 摘要 |
원래의 테스트 패턴의 특성 유지를 도모하면서 새로운 테스트 패턴을 생산하는 것을 가능하게 하는 테스트 패턴 생산 장치 등을 제공한다. 스캔 테스트의 테스트 대상 회로에 입력되는 테스트 패턴을 생산하는 테스트 패턴 생산 장치에 있어서, 주어진 제1 비트, 제2 비트 및 제3 비트의 논리값을 참조하여, 제2 비트의 논리값을 유지 또는 반전하는 것에 의해, 새로운 논리값을 생성하는 논리값 생성 수단을 구비하고, 제1 비트의 논리값은 주어진 테스트 패턴인 초기 테스트 패턴이 가지는 것이거나 또는 초기 테스트 패턴에 기초하여 테스트 패턴 생산 장치가 생산한 새로운 테스트 패턴이 가지는 것이고, 제2 비트의 논리값은 초기 테스트 패턴이 가지는 것이고, 제3 비트의 논리값은 초기 테스트 패턴이 가지는 것이거나 또는 새로운 테스트 패턴이 가지는 테스트 패턴 생산 장치. |
