发明名称 镀膜后硅片缺陷检测分选设备
摘要 本发明公开了镀膜后硅片缺陷检测分选设备,属于太阳能电池片生产领域,其通过机柜中的PLC控制单元将模拟信号反馈给第一单轴机械臂和第二单轴机械臂,第一单轴机械臂将废弃不合格品挑选出,第二单轴机械臂将均匀红片挑选出,分别送入指定硅片盒;合格品由合格硅片传送装置继续流送到硅片收集盒中,完成分选。本发明的镀膜后硅片缺陷检测分选设备可以对镀膜后硅片进行实时、在线、稳定、高效、快速的缺陷检测和分选,且生产线无需停顿,对硅片非接触式检测;其不仅结构紧凑,易于保养和维护,而且实现了对均匀红片的回收利用,具备很好的实用性。
申请公布号 CN104889074A 申请公布日期 2015.09.09
申请号 CN201510343693.9 申请日期 2015.06.19
申请人 镇江苏仪德科技有限公司 发明人 孙智权;童钢;赵不贿;张千;周奇
分类号 B07C5/34(2006.01)I;B07C5/36(2006.01)I;B07C5/38(2006.01)I 主分类号 B07C5/34(2006.01)I
代理机构 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人 张华蒙
主权项 镀膜后硅片缺陷检测分选设备,其特征在于:包括传送带(15),所述的传送带(15)依次贯穿设置在下料机械装置(1)和暗箱(3)的下方,再经第一单轴机械臂(6)和第二单轴机械臂(7)的下方穿过直至与合格硅片传送装置(8)相连接,所述的传动带(15)设置在金属横梁上,金属横梁固定在机柜(10)上;在所述的下料机械装置(1)内设有用于放置镀膜后硅片(14)的花篮(2);所述的暗箱(3)通过支架设置在机柜(10)上,在所述的暗箱(3)内的顶部设有配合使用的工业相机(11)和镜头(12),在镜头(12)的下方设有圆顶光源(13),在所述的暗箱(3)正下方放置传送带(15)的金属横梁上镶嵌设置白色背景板(4),在白色背景板(4)上设有光电传感器(16);其中,在所述的机柜(10)的顶部设有配合暗箱(3)和机柜(10)使用的工控机(5);在工控机(5)内设有与光电传感器(16)进行信号传输的图像处理模块;在所述的机柜(10)内设有PLC控制单元。
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