发明名称 一种内存测试方法及设备
摘要 本发明公开了一种内存测试方法及设备,该方法包括:执行内存测试程序对第一部分内存进行测试,并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备,其中,所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时,所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留,所述内存测试程序运行在第二部分内存中;所述设备重启后,执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试,其中,所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时,所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留,所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。本发明能够实现快速全覆盖的内存测试。
申请公布号 CN102930903B 申请公布日期 2015.09.09
申请号 CN201210416948.6 申请日期 2012.10.26
申请人 华为技术有限公司 发明人 宋东匡;李龙壮;游相斌
分类号 G06F11/22(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I 主分类号 G06F11/22(2006.01)I
代理机构 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人 郝传鑫;熊永强
主权项 一种内存测试方法,其特征在于,所述内存被划分成第一部分内存和第二部分内存,所述方法包括:执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试,并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备,其中,所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时,所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留,所述内存测试程序运行在所述第二部分内存中;所述设备重启后,执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试,其中,所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时,所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留,所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。
地址 518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼