发明名称 |
一种内存测试方法及设备 |
摘要 |
本发明公开了一种内存测试方法及设备,该方法包括:执行内存测试程序对第一部分内存进行测试,并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备,其中,所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时,所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留,所述内存测试程序运行在第二部分内存中;所述设备重启后,执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试,其中,所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时,所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留,所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。本发明能够实现快速全覆盖的内存测试。 |
申请公布号 |
CN102930903B |
申请公布日期 |
2015.09.09 |
申请号 |
CN201210416948.6 |
申请日期 |
2012.10.26 |
申请人 |
华为技术有限公司 |
发明人 |
宋东匡;李龙壮;游相斌 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 |
广州三环专利代理有限公司 44202 |
代理人 |
郝传鑫;熊永强 |
主权项 |
一种内存测试方法,其特征在于,所述内存被划分成第一部分内存和第二部分内存,所述方法包括:执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试,并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备,其中,所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时,所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留,所述内存测试程序运行在所述第二部分内存中;所述设备重启后,执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试,其中,所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时,所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留,所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。 |
地址 |
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 |