发明名称 | 无源标签后向散射参数的测试系统和测试方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种无源标签后向散射参数的测试系统和测试方法。该系统包括:天线架及其上的读写天线、接收天线、平面形隔离板;测试架及其上的无源标签;读写器;频谱仪;确定后向散射参数的计算机;读写天线和接收天线位于隔离板两侧,最大辐射方向指向无源标签中心;隔离板隔离二者的信号;无源标签中心与天线垂足在同一水平面内;无源标签与读写天线中心在水平面的距离<img file="DDA0000075789010000011.GIF" wi="199" he="115" />读写器将入射信号送到读写天线发射,并收集其接收的无源标签发出的反射信号;读写器将其传输的入射信号的频率和功率、其收集的反射信号的功率对应实时发送到计算机;频谱仪将接收天线所接收的后向散射信号的功率发送到计算机。本发明能测试无源标签的后向散射参数。 | ||
申请公布号 | CN102880885B | 申请公布日期 | 2015.09.02 |
申请号 | CN201110197131.X | 申请日期 | 2011.07.14 |
申请人 | 航天信息股份有限公司 | 发明人 | 杨会平;王顺仁;张尊兰;刘鑫 |
分类号 | G06K17/00(2006.01)I | 主分类号 | G06K17/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人 | 孙皓晨 |
主权项 | 一种无源标签后向散射参数的测试系统,其特征在于,该系统包括:天线架;测试架;位于所述天线架上的读写天线、接收天线、平面形的隔离板;位于所述测试架上的所述无源标签;读写器;频谱仪;分析确定出所述后向散射参数的计算机;其中,所述读写天线和所述接收天线分别位于所述隔离板的两侧,二者中心之间的连线与所述隔离板相垂直,垂足为天线垂足,且二者在所述隔离板上的投影均在所述隔离板的边缘以内;所述读写天线和接收天线二者的最大辐射方向均指向所述无源标签的中心;所述读写天线、隔离板和接收天线均可沿所述天线架上下移动;所述无源标签的中心与所述天线垂足在同一水平面内,且所述无源标签中标签天线的最大辐射方向在该水平面内;所述无源标签的中心与所述读写天线的中心在水平面内的距离R满足<img file="1.GIF" wi="199" he="133" />;其中,D为所述读写天线的最大直径,λ为所述读写天线发射的电磁波信号的波长;所述读写器与所述读写天线相连,以将入射信号传输到所述读写天线进行发射,并从所述读写天线收集其接收的所述无源标签发出的反射信号;所述读写器与所述计算机相连,以将其传输的所述入射信号的频率和功率、其收集的所述反射信号的功率相对应,实时发送到所述计算机,并受所述计算机的控制;所述接收天线与所述频谱仪相连,以将其接收的后向散射信号发送到所述频谱仪;所述频谱仪与所述计算机相连,以将所述接收天线所接收的所述后向散射信号的功率发送到所述计算机。 | ||
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