发明名称 Verfahren zum Variieren des Abstands zwischen einem Leiterplattenanschluss und einem Bauteilanschluss
摘要 <p>Verfahren zum Variieren des Abstands (1) zwischen einem Leiterplattenanschluss (2) einer Leiterplatte (3) und einem Bauteilanschluss (4) eines Bauteils (5), das mit der Leiterplatte (3) kontaktiert wird, umfassend die Verfahrensschritte: Erzeugen von mindestens einem ersten Tröpfchen (6) eines elektrisch leitfähigen und viskosen Mediums, wobei das mindestens erste Tröpfchen (6) einen vorbestimmten Volumen aufweist, Platzieren des mindestens ersten Tröpfchens (6) auf dem Leiterplattenanschluss (2), Platzieren des Bauteils (5) auf der Leiterplatte (3), so dass das mindestens erste Tröpfchen (6) eine stoffschlüssige und elektrische Verbindung zwischen dem Leiterplattenanschluss (2) und dem Bauteilanschluss (4) herstellt, wobei der Abstand (1) zwischen dem Leiterplattenanschluss (2) und dem Bauteilanschluss (4) durch das Volumen des mindestens ersten Tröpfchens (6) variiert wird.</p>
申请公布号 DE102014102597(A1) 申请公布日期 2015.08.27
申请号 DE201410102597 申请日期 2014.02.27
申请人 ENDRESS + HAUSER GMBH + CO. KG 发明人 HIPPIN, CHRISTOPH
分类号 H05K3/34;H05K3/32;H05K13/04 主分类号 H05K3/34
代理机构 代理人
主权项
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