发明名称 用于微波变频器上的品质测试方法
摘要 本发明涉及变频器品质测试技术领域,提供用于微波变频器上的品质测试方法,包括:产品组装测试、老化烧机试验、高低温测试、锁屏蔽盖作业、热测冷泡验证及震动跌落试验。采用产品组装测试,其在振动、噪声、增益或/和信号隔离环境下测试产品使用情况,产品适用于各种环境;采用老化烧机试验,产品寿命更长;采用高低温测试,产品能在极端温度下使用;采用锁屏蔽盖作业,防止信号泄露,防水防漏,防止杂物进入产品内部;采用热测冷泡验证,产品防水效果优越;采用震动跌落试验,产品包装稳定。总之,采用上述用于微波变频器上的品质测试方法所制造得到的微波变频器,防水效果优越,产品使用稳定,寿命长,满足行业内高规格高质量产品的追求。
申请公布号 CN104865464A 申请公布日期 2015.08.26
申请号 CN201510208899.0 申请日期 2015.04.28
申请人 深圳市华讯方舟科技有限公司;华讯方舟科技(湖北)有限公司 发明人 詹宇昕;何宏平;潘雄广;罗得辉
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01M7/08(2006.01)I;G01M7/02(2006.01)I;G01M3/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人 张全文
主权项 用于微波变频器上的品质测试方法,其特征在于,包括:用于在振动、噪声、增益或/和信号隔离环境下测试所述微波变频器使用情况的产品组装测试;用于对所述微波变频器进行使用稳定性试验的老化烧机试验;用于在高温、低温环境下对所述微波变频器进行使用特性测试的高低温测试;用于对所述微波变频器进行信号屏蔽、防水或/和防杂物作业的锁屏蔽盖作业;用于对所述微波变频器进行防水检验的热测冷泡验证;以及用于对所述微波变频器进行包装稳定性检验的震动跌落试验。
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