| 发明名称 | 一种用于检测非接触卡芯片不良的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明实施例提供一种用于检测非接触卡芯片不良的装置，包括：刷卡器，用于接收非接触卡反馈的高频信号；延时继电器控制器，与所述刷卡器相连，用于接收所述高频信号并在一段延时后传递给制卡设备控制器；制卡设备控制器，用于判断是否接收到所述高频信号，如果没有接收到所述高频信号，则控制制卡设备暂停工作。本发明实施例还相应提供一种用于检测非接触卡芯片不良的方法。本方案可以有效提高不良卡的检测效率。 | ||
| 申请公布号 | CN104865459A | 申请公布日期 | 2015.08.26 |
| 申请号 | CN201510128993.5 | 申请日期 | 2015.03.23 |
| 申请人 | 珠海市金邦达保密卡有限公司 | 发明人 | 胡安辉;周斌;张琛航;龚家杰 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 广东秉德律师事务所 44291 | 代理人 | 杨焕军;江超 |
| 主权项 | 一种用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，包括：刷卡器，用于接收非接触卡反馈的高频信号；延时继电器控制器，与所述刷卡器相连，用于接收所述高频信号并在一段延时后传递给制卡设备控制器；制卡设备控制器，用于判断是否接收到所述高频信号，如果没有接收到所述高频信号，则控制制卡设备暂停工作。 | ||
| 地址 | 519070 广东省珠海市前山福溪金邦达工业园 | ||