一种晶体硅太阳能电池片栅线高度和宽度的测量方法

摘要

本发明公开了一种晶体硅太阳能电池片栅线高度的测量方法，包括如下步骤：(1)将待测试的样品放入金相显微镜的载物台上，确定第一个测试点；(2)先用粗调旋钮调节至初见物像，再改用微调旋钮调节至物像清楚为止；(3)将物镜换成激光镜头；(4)对焦；(5)测试得到第一个测试点的栅线高度数据；(6)选择确定第二个测试点；调节微调旋钮，将栅线的顶端和底端移到测试视野范围之内；测试，即可得到第二个测试点的栅线高度数据；(7)重复步骤；(6)进行多点测试；(8)计算得到平均高度。实验证明：与现有方法相比，本发明的测试时间可以缩短40%以上，取得了显著的效果；大大提升了测试效率。

主权项

一种晶体硅太阳能电池片栅线高度的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：(1) 将待测试的样品放入金相显微镜的载物台上，确定第一个测试点；(2) 先用粗调旋钮调节至初见物像，再改用微调旋钮调节至物像清楚为止；(3) 将物镜换成激光镜头；(4) 对栅线的顶端和底端分别进行对焦；(5) 测试，即可得到第一个测试点的栅线高度数据；(6) 选择确定第二个测试点；调节微调旋钮，将栅线的顶端和底端移到测试视野范围之内；测试，即可得到第二个测试点的栅线高度数据；(7) 重复步骤(6)，进行多点测试，即可得到多个栅线高度数据；(8) 通过计算即可得到晶体硅太阳能电池片栅线的平均高度。