发明名称 |
在带电粒子显微镜中检查样本的方法 |
摘要 |
一种在扫描透射类型的带电粒子显微镜中检查样本的方法,包括如下步骤:-提供带电粒子射束,所述射束通过发光器从源被引导以便照射样本;-提供检测器,用于检测带电粒子穿过样本的通量;-使得所述射束横跨样本表面进行扫描,并且记录作为扫描位置的函数的检测器输出,从而产生样本的带电粒子图像的累积,该方法还包括如下步骤:-把检测器体现为包括多个检测分段;-组合来自检测器的不同分段的信号,以便在每个扫描位置处从检测器产生向量输出,并且编译这个数据以产生向量场;-通过使所述向量场经受二维积分操作来以数学方式处理所述向量场,由此产生积分向量场图像。 |
申请公布号 |
CN104865276A |
申请公布日期 |
2015.08.26 |
申请号 |
CN201510087134.6 |
申请日期 |
2015.02.25 |
申请人 |
FEI 公司 |
发明人 |
I.拉兹;E.G.T.博思;F.博格霍贝;B.布伊斯塞;K.S.塞德;S.拉扎 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
申屠伟进;张懿 |
主权项 |
一种在扫描透射类型的带电粒子显微镜中检查样本的方法,包括如下步骤:‑提供带电粒子射束,所述射束通过发光器从源被引导以便照射样本;‑提供检测器,用于检测带电粒子穿过样本的通量;‑使得所述射束横跨样本表面进行扫描,并且记录作为扫描位置的函数的检测器输出,从而产生样本的带电粒子图像的累积,其特征在于:‑把检测器体现为包括多个检测分段;‑组合来自检测器的不同分段的信号,以便在每个扫描位置处从检测器产生向量输出,并且编译这个数据以产生向量场;‑通过使所述向量场经受二维积分操作来以数学方式处理所述向量场,由此产生积分向量场图像。 |
地址 |
美国俄勒冈州 |