发明名称 | 温度测定方法及记忆媒体 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI497044 | 申请公布日期 | 2015.08.21 |
申请号 | TW100134604 | 申请日期 | 2011.09.26 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 舆水地盐;山涌纯;松土龙夫 |
分类号 | G01K11/00;G01B11/06 | 主分类号 | G01K11/00 |
代理机构 | 代理人 | 周良谋 新竹市东大路1段118号10楼;周良吉 新竹市东大路1段118号10楼 | |
主权项 | 一种温度测定方法,其特征系包含:光传送步骤,把来自光源的光,传送至基板上形成有薄膜之测定对象物的测定点;干涉波测定步骤,对于该基板之表面上之反射光所产生的第1干涉波、以及该基板与该薄膜之介面及该薄膜之背面上之反射光所产生的第2干涉波进行测定;光路长度计算步骤,计算出从该第1干涉波到该第2干涉波的光路长度;膜厚计算步骤,依据该第2干涉波的强度,计算出该薄膜的膜厚;光路差计算步骤,依据该计算出之该薄膜的膜厚,计算出该基板之光路长度与该计算出之光路长度二者的光路差;光路长度修正步骤,依据该计算出之光路差,对于该计算出之从该第1干涉波到该第2干涉波的光路长度进行修正;及温度计算步骤,从该修正后的光路长度,计算出该测定对象物在该测定点上的温度。 | ||
地址 | 日本 |