发明名称 制程监控方法及表面分析系统
摘要
申请公布号 TWI497632 申请公布日期 2015.08.21
申请号 TW102119586 申请日期 2013.06.03
申请人 黄天兴 发明人 黄天兴
分类号 H01L21/67;H01L21/027 主分类号 H01L21/67
代理机构 代理人 高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种制程监控方法,包含:一准备步骤,准备一个具有多个对位记号的基材,接着将该基材经过一制程处理;一量测计算步骤,取得该些对位记号于经过该预定制程处理后的叠对误差残余值;及一第一转换比对步骤,取任两个对位记号的叠对误差残余值,计算该两个对位记号之间的叠对误差残余值差值,将该叠对误差残余值差值与一组预设资料进行比对运算,得到一第一比对值。
地址 台南市永康区大湾六街11号