发明名称 |
X射线设备 |
摘要 |
X射线设备,具有位于焦点(12b)和检测器(28b)之间的准直仪装置(12a、18、28a),用于实现准直仪装置、检测器和X射线源在x-z平面(83)内沿着扫描轨迹(30)且也沿着弯曲的扫描轨迹(45)的运动的机构,所述弯曲的扫描轨迹(45)部分地沿着垂直于x-z平面的y轴(35)延伸。通过使用本发明可以获得具有弯曲的边缘的对象的更好的组织覆盖。 |
申请公布号 |
CN104854662A |
申请公布日期 |
2015.08.19 |
申请号 |
CN201480003504.7 |
申请日期 |
2014.08.06 |
申请人 |
皇家飞利浦有限公司 |
发明人 |
D·B·库特拉;T·比洛;G·马滕斯;H-I·马克;K·R·梅茨 |
分类号 |
G21K1/02(2006.01)I |
主分类号 |
G21K1/02(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
蔡洪贵 |
主权项 |
一种X射线设备,包括X射线源(20),其被配置为用于产生X射线束(16)且包括焦点位置(12b);检测器(28b),其被配置为检测X辐射;准直仪装置(12a、18、28a),其包括至少一个准直仪结构,所述准直仪装置位于所述焦点(12b)和所述检测器(28b)之间;用于实现所述准直仪装置、所述检测器和所述X射线源在x‑z平面(83)中沿着扫描轨迹(30)的运动的机构(43);控制单元,其被配置为用于控制所述用于实现所述准直仪装置(12a、18、28a)、所述检测器(28b)和所述X射线源(20、12b)沿着所述扫描轨迹(30)的运动的机构,其特征在于,用于实现所述准直仪装置(12a、18、28a)、所述检测器(28b)和所述X射线源(20、12b)的所述扫描轨迹(30)的所述机构(43)还被配置为用于实现沿着弯曲的扫描轨迹(45)的运动,所述弯曲的扫描轨迹部分地沿着与所述x‑z平面垂直的y轴(35)延伸。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |