发明名称 |
X射线分析装置 |
摘要 |
对诸如柔性片材60的初级样品的X射线分析使用具有诸如材料馈通系统20的初级样品保持器的装置,该材料馈通系统20用于移动柔性片材穿过该装置。包括X射线源和X射线探测器的X射线分析探头6被安装在机械臂4上。该机械臂三维地移动,使得在通过材料馈通系统将柔性片材穿过该装置时,该分析探头可被带到测量该柔性片材的位置。 |
申请公布号 |
CN104849295A |
申请公布日期 |
2015.08.19 |
申请号 |
CN201510155965.2 |
申请日期 |
2015.02.25 |
申请人 |
帕纳科有限公司 |
发明人 |
J·瑞萨玛;M·A·帕尔斯 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I;G01N23/20(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
郑宗玉 |
主权项 |
一种用于样品的X射线分析的装置,包括:初级样品保持器,用于保持所述样品;包括X射线源和X射线探测器的X射线分析探头,以及安装在所述装置上的机械臂,所述X射线分析探头被安装在所述机械臂上,所述机械臂被布置为在三维上线性地并且旋转地移动所述X射线分析探头,使得所述分析探头能被带到测量所述样品的位置;其中,所述初级样品保持器是材料馈通系统,所述材料馈通系统用于移动柔性片材穿过所述装置。 |
地址 |
荷兰阿尔默洛 |