| 发明名称 | 一种基于ATE的FPGA器件测试装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种基于ATE的FPGA器件测试装置，包括测试控制器、波形转换器和测试显示器；所述测试控制器通过波形转换器与被测FPGA器件相连接；所述波形转换器分别与测试控制器和被测FPGA器件双向连接；所述波形转换器与测试显示器单向连接。本实用新型实现一种高可靠且精度能达到纳秒以上的物理测试平台，并实现下列功能：精确的对被测FPGA接口信号的物理特性进行测试；精确的对被测FPGA做接口测试。 | ||
| 申请公布号 | CN204575782U | 申请公布日期 | 2015.08.19 |
| 申请号 | CN201520333306.9 | 申请日期 | 2015.05.21 |
| 申请人 | 中国科学院空间应用工程与技术中心 | 发明人 | 周珊;王金波;孔璐 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人 | 杨立 |
| 主权项 | 一种基于ATE的FPGA器件测试装置，其特征在于，包括测试控制器、波形转换器和测试显示器；所述测试控制器通过波形转换器与被测FPGA器件相连接；所述波形转换器分别与测试控制器和被测FPGA器件双向连接；所述波形转换器与测试显示器单向连接。 | ||
| 地址 | 100094 北京市海淀区邓庄南路九号 | ||