发明名称 元器件失效归零分析方法与系统
摘要 本发明提供一种元器件失效归零分析方法与系统,系统建立元器件失效物理故障树,将失效物理故障树转换为失效定位故障树,建立机理原因与失效特征相对应的元器件故障字典,根据故障树和故障字典进行元器件失效归零分析。本发明元器件失效归零分析方法与系统,能够通过失效定位故障树将元器件故障定位到内部物理结构,给出清晰的失效路径,通过故障字典的失效特征向量分析快速确定元器件失效模式对应的失效机理,通过失效物理故障树确定相关失效机理的机理因子和影响因素,提出针对性的失效控制措施,实现对电子元器件故障的快速、准确定位和诊断。
申请公布号 CN103020436B 申请公布日期 2015.08.12
申请号 CN201210511020.6 申请日期 2012.11.30
申请人 工业和信息化部电子第五研究所 发明人 何小琦;来萍;恩云飞;陈媛
分类号 G06F19/00(2011.01)I 主分类号 G06F19/00(2011.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 王茹;曾旻辉
主权项 一种元器件失效归零分析方法,其特征在于,包括步骤:根据所述元器件失效物理的共性特点,建立所述元器件的失效物理故障树;根据所述失效物理故障树将失效物理事件转为可观测的节点事件,以使所述失效物理故障树转换为失效定位故障树;根据所述失效定位故障树,建立失效机理原因与失效特征相对应的元器件故障字典;根据所述失效物理故障树与所述元器件故障字典,对所述元器件进行失效归零分析;其中,所述根据所述失效定位故障树,建立失效机理原因与失效特征相对应的元器件故障字典具体包括步骤:根据所述定位故障树,确定所述元器件的失效模式集,所述失效模式集包括多个失效模式子集;根据所述定位故障树,确定所述失效模式子集在失效模式下的可观测节点;根据所述定位故障树,由所述可观测节点得出观测参数,判据所述观测参数,得出失效模式的可观测节点特征值;根据所述可观测节点特征值,确定所述元器件各种失效模式的特征向量;根据所述定位故障树,确定所述元器件的失效机理原因;根据所述失效机理原因与所述可观测节点特征值,建立所述失效机理原因与所述节点事件失效特征相应的元器件故障字典。
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