存储器芯片及其操作方法

摘要

本发明公开了一种存储器芯片及其操作方法。存储器芯片包括多个焊垫，该方法包括：接收一测试指令；根据该测试指令由该多个焊垫输出多个第一测试信号，其中任意两实体相邻的该多个焊垫所对应的该多个第一测试信号是彼此互补的；以及根据该测试指令，接着该多个第一测试信号之后由该多个焊垫输出多个第二测试信号，其中对应各该多个焊垫的该第一测试信号以及该第二测试信号是彼此互补的。利用本发明，可以有效地简化存储器芯片的测试程序。

主权项

一种存储器芯片的操作方法，该存储器芯片包括多个焊垫，其特征在于，该方法包括：接收一测试指令；根据该测试指令由该多个焊垫输出多个第一测试信号，其中该多个焊垫中任意两实体相邻的焊垫所对应的第一测试信号是彼此互补的；以及根据该测试指令，接着该多个第一测试信号之后由该多个焊垫输出多个第二测试信号，其中对应各该多个焊垫的该第一测试信号以及该第二测试信号是彼此互补的。