发明名称 用于表征湿涂料层的传感器系统和方法
摘要 提供基于拟合到物理模型通过涂料层参数来表征上涂料主体的湿涂料层的方法。该方法包括:由发射器系统朝上涂料主体发射THz辐射信号使得THz辐射与湿涂料层交互,湿涂料层还未完成干燥过程,在该干燥过程期间湿涂料层变成干涂料层;由检测器系统检测响应信号,其是与湿涂料层交互的检测的THz辐射信号;通过优化模型参数使得物理模型的预测响应信号拟合到检测的响应信号来确定物理模型的模型参数,其中模型参数指示湿涂料层的光学性质,其描述THz辐射信号与湿涂料层的交互,确定的模型参数包括湿涂料层的折射率的参数化;以及从确定的模型参数确定涂料层参数,其中涂料层参数包括湿涂料层的预测干燥层厚度。
申请公布号 CN104833312A 申请公布日期 2015.08.12
申请号 CN201510040820.8 申请日期 2015.01.27
申请人 ABB 技术有限公司 发明人 J.L.M.范梅撤伦
分类号 G01B11/06(2006.01)I;B05D3/06(2006.01)I 主分类号 G01B11/06(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 易皎鹤;汤春龙
主权项 基于拟合到物理模型通过涂料层参数来表征上涂料主体(2)的湿涂料层(4a)的方法,所述方法由传感器系统(1)采用非接触方式实施,所述传感器系统包括用于发射THz辐射的发射器系统(10)、用于检测THz辐射的检测器系统(20)和操作地耦合于所述发射器系统(10)和所述检测器系统(20)的处理单元(30),所述方法包括:‑由所述发射器系统(10)朝所述上涂料主体(2)发射THz辐射信号(60)使得所述THz辐射与所述湿涂料层(4a)交互,所述湿涂料层(4a)还未完成干燥过程,在所述干燥过程期间所述湿涂料层变成干涂料层;‑由所述检测器系统(20)检测响应信号(74),其是与所述湿涂料层(4a)交互的检测的THz辐射信号(70);‑通过优化模型参数来确定所述物理模型的所述模型参数使得所述物理模型的预测响应信号(94)拟合到检测的响应信号(74),其中所述模型参数指示所述湿涂料层(4a)的光学性质,其描述所述THz辐射信号与所述湿涂料层(4a)的交互,确定的模型参数包括所述湿涂料层的折射率的参数化;以及‑从所述确定的模型参数确定所述涂料层参数,其中所述涂料层参数包括所述湿涂料层(4a)的预测干燥层厚度。
地址 瑞士苏黎世