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一种印刷电路板辐射干扰的估测方法，其包含：提供一BCI探针(Bulk current injection probe)及一向量网路分析仪，该BCI探针具有一感应部、一量测空间及一量测埠，该感应部围绕该量测空间，该量测埠耦接于该感应部，该向量网路分析仪具有一讯号输出埠、一探针量测埠及一讯号输入埠；进行一校正步骤，提供一校正夹具，该校正夹具具有一腔室、一第一校正埠及一第二校正埠，将该BCI探针设置于该腔室，并将该向量网路分析仪之该讯号输出埠耦接于该第一校正埠，该探针量测埠耦接于该BCI探针之该量测埠，该讯号输入埠耦接于该第二校正埠，其中，该向量网路分析仪由该讯号输出埠输出一校正讯号至该第一校正埠，以使该BCI探针输出一感应讯号至该向量网路分析仪之该探针量测部，以求得该BCI探针之一转移阻抗；进行一量测步骤，提供一待测物，该待测物具有至少一输入埠及至少一输出埠，该待测物设置于该量测空间，将该讯号输出埠耦接于该待测物之该输入埠，该探针量测埠耦接于该BCI探针之该量测埠，该讯号输入埠耦接于该待测物之该输出埠，其中，该向量网路分析仪由该讯号输出埠输出一测试讯号至该待测物之该输入埠，使该BCI探针输出一功率讯号至该向量网路分析仪之该探针量测部，且该输出埠输出一输出讯号至该向量网路分析仪之该讯号输入埠，以量测该功率讯号及该测试讯号之间的一量测-输入转移函数及该输出讯号及该测试讯号之间的一输出-输入转移函数；以及
进行一估测步骤，根据该量测-输入转移函数、该输出-输入转移函数及该转移阻抗估测该待测物之辐射干扰，其中估测该待测物之辐射干扰的计算式为
其中Efar(ω)为该待测物之辐射干扰(dbuV/m)，Smi为量测-输入转移函数(db)，Soi为输出-输入转移函数(db)，ZT(ω)该BCI探针之该转移阻抗(dbΩ)，Vin为测试讯号之大小(V)，L为该待测物之长度(mm)，h为该待测物之一基板的厚度(mm)，β为自由空间之相位常数，R为量测点与该待测物之间的距离(m)。 |
