发明名称 |
一种电容触摸屏温漂特性检测方法及检测系统 |
摘要 |
本发明提出一种电容触摸屏温漂特性检测方法及检测系统,其通过连续监控互电容值偏差的变化来判断触摸屏是否发生温漂。本方法首先测得电容触摸屏所有驱动线Drive line和感测线Sense line之间的互电容值作为基准,然后定时按一定的步长对电极矩阵构成的电容值进行采样测量,并计算电容值与对应坐标基准值之间的偏差,统计偏差值落在预设阈值范围之外的点数,该点数多于预设的标准值时,则判断电容屏存在温漂。本发明具有检测快捷高效、易编程实现、扩展性好等优点。 |
申请公布号 |
CN102880366B |
申请公布日期 |
2015.08.05 |
申请号 |
CN201210312703.9 |
申请日期 |
2012.08.29 |
申请人 |
北京集创北方科技有限公司 |
发明人 |
张晋芳;章军富 |
分类号 |
G06F3/044(2006.01)I |
主分类号 |
G06F3/044(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种电容触摸屏温漂特性检测方法,其包括如下步骤:首先,在不发生触摸的T0时刻,依次驱动M根驱动线Drive line,并对N根感测线Sense line逐列扫描,从而测得所有的互电容值Cij,并将其作为基准,并设置可信度系数C、步长S、阈值Th,其次,在Ti时刻进行第i次采样,按如下方法选取采样点坐标检测互电容值Cxy;x=i+j*S,j=0,1,…,[(N‑i)/S]y=i+k*S,k=0,1,…,[(M‑i)/S]其次,将Cxy与对应坐标基准电容值逐差,并统计偏差大于Th的点数n1及小于‑Th的点数n2;最后,令X=[(N‑i)/S]+1,Y=[(M‑i)/S]+1,通过比较n1,n2与X*Y*C的关系可判断是否存在漂移,n1>X*Y*C,则存在正向温漂,n2>X*Y*C,则存在负向温漂。 |
地址 |
100088 北京市海淀区北三环中路31号4号楼13层(泰斯特大厦) |