发明名称 |
内嵌闪存卡烧机方法以及测试板、以及内嵌闪存卡 |
摘要 |
本发明揭露一种内嵌闪存卡的烧机方法以及测试板、以及采用所述技术测试的内嵌闪存卡。所揭露的方法包括以下步骤:将一测试数据写入一内嵌闪存卡的一闪存;将该内嵌闪存卡的一命令线电性接地,以操作该内嵌闪存卡于一开机状态;在该内嵌闪存卡于该开机状态且上述测试数据经辨识存在于该闪存时,于该闪存上实行一烧机流程;并且,在该烧机流程中收集一测试报告,该测试报告储存于该闪存。 |
申请公布号 |
CN103077743B |
申请公布日期 |
2015.08.05 |
申请号 |
CN201210409873.9 |
申请日期 |
2012.10.24 |
申请人 |
慧荣科技股份有限公司 |
发明人 |
张嘉芳;欧旭斌 |
分类号 |
G11C16/10(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I |
主分类号 |
G11C16/10(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
胡林岭 |
主权项 |
一种内嵌闪存卡烧机方法,包括:将一测试数据写入一内嵌闪存卡的一闪存;通过测试板的一导线,将该内嵌闪存卡的一指令线电性连接至地端,以操作该内嵌闪存卡为一开机状态;当该内嵌闪存卡为该开机状态且该测试数据经辨识存在于该闪存时,对该闪存执行一烧机流程;以及在该烧机流程中收集一测试报告,且储存该测试报告至该闪存。 |
地址 |
中国台湾新竹县竹北市台元街36号8楼之1 |