发明名称 | 半导体装置之制造方法、半导体装置及配线形成用治具 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI495025 | 申请公布日期 | 2015.08.01 |
申请号 | TW101128140 | 申请日期 | 2012.08.03 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 岩津春生;松本俊行 |
分类号 | H01L21/60;H01L23/535 | 主分类号 | H01L21/60 |
代理机构 | 代理人 | 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼 | |
主权项 | 一种半导体装置之制造方法,其包括:第1步骤,其系形成于厚度方向上贯通基板之一对贯通电极、及沿厚度方向于基板延伸且与基板之一面相连之一对垂直方向之电极,且于基板上之元件层中形成连接上述一对垂直方向之电极之共有配线;第2步骤,其系形成连接上述一对贯通电极中之一贯通电极与上述一对垂直方向之电极中之一垂直方向之电极之连接配线;以及第3步骤,其系积层形成有上述元件层之基板,并将一基板之上述贯通电极、与对向于该一基板而积层之另一基板之上述一对贯通电极中未连接上述连接配线之贯通电极连接。 | ||
地址 | 日本 |