发明名称 |
图像传感器 |
摘要 |
本实用新型涉及一种用于测量材料的折射率的图像传感器。一个技术问题是解决与现有技术中存在的一个或更多个问题相关的问题。根据一个实施例,图像传感器包含:具有面向材料的裸露表面的半导体基板,在该半导体基板上的与裸露表面间隔开的像素阵列,以及在半导体基板上的光源,该光源被配置以将光朝着裸露表面发射到半导体基板之内,反射光使其离开裸露表面射向像素阵列,其中像素阵列检测由裸露表面反射的光以计算出材料的折射率。本实用新型的一个优点是:提供了用于测量材料的折射率的新的图像传感器及方案。 |
申请公布号 |
CN204516769U |
申请公布日期 |
2015.07.29 |
申请号 |
CN201520266774.9 |
申请日期 |
2015.04.29 |
申请人 |
半导体元件工业有限责任公司 |
发明人 |
C·帕克斯 |
分类号 |
H01L27/146(2006.01)I;H01L27/148(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
申发振 |
主权项 |
一种图像传感器,用于测量材料的折射率,其特征在于所述图像传感器包含:具有面向所述材料的裸露表面的半导体基板;在所述半导体基板上的与所述裸露表面间隔开的像素阵列;以及在所述半导体基板上的光源,被配置用于将光朝所述裸露表面发射到所述半导体基板内,以使所述光反射离开所述裸露表面射向所述像素阵列,所述像素阵列检测由所述裸露表面反射的光来计算所述材料的折射率。 |
地址 |
美国亚利桑那 |