发明名称 铁氧体基板永磁薄膜的快速退火方法
摘要 本发明涉及磁性薄膜材料的退火工艺领域,其公开了一种铁氧体基板永磁薄膜的快速退火方法,包括如下步骤:(A)用N2气清洁基片;(B)放在陶瓷平板上;(C)在激光退火炉中进行高温退火处理,退火的同时在垂直膜面方向施加强磁场;(D)取片。本发明的有益效果是:采用激光退火工艺进行热处理可以使退火周期短;退火便于准确定位处理,不影响周边和下方材料的性能;不需要高真空或惰性气体保护,没有不可控的杂质污染;可在较低的基体温度下进行退火,基体变形小,膜层材料不会有升华或分解发生;永磁薄膜结晶速度高。
申请公布号 CN104810146A 申请公布日期 2015.07.29
申请号 CN201510231625.3 申请日期 2015.05.08
申请人 西南应用磁学研究所 发明人 郭韦;倪经;周俊;黄豹;邹延珂
分类号 H01F41/22(2006.01)I 主分类号 H01F41/22(2006.01)I
代理机构 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 代理人 胡吉科
主权项 一种铁氧体基板永磁薄膜的快速退火方法,其特征在于:包括如下步骤:(A)用N2气清洁基片;(B)放在陶瓷平板上;(C)在激光退火炉中进行高温退火处理,退火的同时在垂直膜面方向施加强磁场;(D)取片。
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