发明名称 一种研磨盘平整度测量工具
摘要 本实用新型公开了一种研磨盘平整度测量工具。其包括带有可升降的升降杆(10)的升降支架(1)、卡槽(8)、平整度测量仪(4),所述升降杆(10)顶端安装有万向节轴承(9),所述卡槽(8)下部与所述万向节轴承(9)连接,所述平整度测量仪(4)设置在所述卡槽(8)内。本实用新型结构简单,操作方便,能够保证测量准确度,能有效避免研磨盘不平而导致的晶片破损,且可以实现单人操作,省时省力。
申请公布号 CN204514257U 申请公布日期 2015.07.29
申请号 CN201520262316.8 申请日期 2015.04.27
申请人 山东天岳晶体材料有限公司 发明人 宗艳民;张志海;高玉强;梁庆瑞;孙诗甫;李秀杰
分类号 G01B5/28(2006.01)I 主分类号 G01B5/28(2006.01)I
代理机构 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人 苗峻;孙亚琳
主权项 一种研磨盘平整度测量工具,其特征是:包括带有可升降的升降杆(10)的升降支架(1)、卡槽(8)、平整度测量仪(4),所述升降杆(10)顶端安装有万向节轴承(9),所述卡槽(8)下部与所述万向节轴承(9)连接,所述平整度测量仪(4)设置在所述卡槽(8)内。
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