发明名称 |
一种碳化硅二极管及其制造方法 |
摘要 |
本发明涉及一种微电子器件及其制造方法,具体涉及一种碳化硅二极管及其制造方法。碳化硅二极管包括:具有第一导电类型的碳化硅衬底;碳化硅衬底上具有低掺杂浓度的第一导电类型的第一层碳化硅;第一区碳化硅,具有第二导电类型且在第一层碳化硅上形成;第二区碳化硅,具有第二导电类型且在第一层碳化硅之上,第二区碳化硅、第一区碳化硅和第一层碳化硅形成台面结构,用于为碳化硅二极管提供边缘末端保护;第二区碳化硅上的第一电极;以及碳化硅衬底上的第二电极,还提供一种制造方法,本发明使碳化硅二极管制造过程简化,耐压能力提高,防止器件边缘末端击穿以及击穿电压漂移,提高反向工作电压,减小反向漏电流,增加稳定性。 |
申请公布号 |
CN104810409A |
申请公布日期 |
2015.07.29 |
申请号 |
CN201410037059.8 |
申请日期 |
2014.01.26 |
申请人 |
国家电网公司;国网智能电网研究院 |
发明人 |
査祎英;杨霏;于坤山 |
分类号 |
H01L29/861(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/861(2006.01)I |
代理机构 |
北京安博达知识产权代理有限公司 11271 |
代理人 |
徐国文 |
主权项 |
一种碳化硅二极管,其特征在于,所述碳化硅二极管包括:具有第一导电类型的碳化硅衬底;所述碳化硅衬底上具有低掺杂浓度的第一导电类型的第一层碳化硅;第一区碳化硅,具有第二导电类型且在第一层碳化硅上形成;第二区碳化硅,具有第二导电类型且在第一层碳化硅之上,第二区碳化硅、第一区碳化硅和第一层碳化硅形成台面结构,用于为碳化硅二极管提供边缘末端保护;第二区碳化硅上的第一电极;以及碳化硅衬底上的第二电极。 |
地址 |
100031 北京市西城区西长安街86号 |