| 发明名称 | 绝缘子污染预测方法及设备 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种预测绝缘子污染程度的方法和设备。该方法包括：获取影响绝缘子污染程度的预测数据；获取绝缘子的当前污染状态；根据所述预测数据、所述当前污染状态以及绝缘子污染程度计算模型预测绝缘子污染程度，其中，所述绝缘子污染程度计算模型至少包括绝缘子的初始污染状态变量以及在所述初始污染状态变量基础上的污染物累加预测以及污染物减少预测，所述累加预测以及所述减少预测之中的至少一个与所述预测数据相关，所述初始污染状态变量与所述当前污染状态相关。利用本发明实施例的方法和设备，可以改善绝缘子污染程度的预测。 | ||
| 申请公布号 | CN104809511A | 申请公布日期 | 2015.07.29 |
| 申请号 | CN201410042448.X | 申请日期 | 2014.01.28 |
| 申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | 谢保国;王海峰;张盟;杜辉;芮晓光;白鑫鑫;张亚楠;尹文君;夏曦;董进 |
| 分类号 | G06Q10/04(2012.01)I;G06Q50/06(2012.01)I | 主分类号 | G06Q10/04(2012.01)I |
| 代理机构 | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人 | 酆迅 |
| 主权项 | 一种预测绝缘子污染程度的方法，该方法包括：获取影响绝缘子污染程度的预测数据；获取绝缘子的当前污染状态；根据所述预测数据、所述当前污染状态以及绝缘子污染程度计算模型预测绝缘子污染程度，其中，所述绝缘子污染程度计算模型至少包括绝缘子的初始污染状态变量以及在所述初始污染状态变量基础上的污染物累加预测以及污染物减少预测，所述累加预测以及所述减少预测之中的至少一个与所述预测数据相关，所述初始污染状态变量与所述当前污染状态相关。 | ||
| 地址 | 美国纽约阿芒克 | ||