发明名称 |
一种提高蓝宝石衬底氮化镓外延层均匀性的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种提高蓝宝石衬底氮化镓外延层均匀性的方法,主要是采用激光在蓝宝石衬底正面或背面激光划片,划出0.1mil×0.1mil~100mil×100mil的正方形图形,然后利用光刻在正方形区域内做出圆形图形,直径2μm~3μm,制备出蓝宝石图形衬底,再通过MOCVD生长GaN-LED,该方法减少GaN生长过程中产生的应力,提高了生长的均匀性。另外,此方法生长完GaN-LED后,制备出管芯可以直接裂片,减少一步划片裂片工艺,节省工艺制备时间,提高效率。激光划出的槽面可以增加管芯出光。 |
申请公布号 |
CN102856442B |
申请公布日期 |
2015.07.22 |
申请号 |
CN201110174926.9 |
申请日期 |
2011.06.27 |
申请人 |
山东华光光电子有限公司 |
发明人 |
邵慧慧;徐现刚;曲爽;王成新;李树强 |
分类号 |
H01L33/00(2010.01)I;B23K26/402(2014.01)I |
主分类号 |
H01L33/00(2010.01)I |
代理机构 |
济南金迪知识产权代理有限公司 37219 |
代理人 |
许德山 |
主权项 |
一种提高蓝宝石衬底氮化镓外延层均匀性的方法,步骤如下:(1)将蓝宝石衬底装入激光划片机中;固定蓝宝石衬底在蓝膜上,通过真空模式吸附在设备底座上;通过1.3W激光将蓝宝石衬底正面划上10mil×10mil的正方形图形,划痕深度5μm、宽度1μm;(2)在蓝宝石正面上,蒸镀一层200nm厚的SiO<sub>2</sub>掩膜;在掩膜层上涂上一层光刻胶,利用光刻胶将2μm圆形图形转移到10mil×10mil的正方形图形区域掩膜层上,利用光刻对版进行曝光,曝光时间20秒,显影60秒后,显影液为碱性溶液;烘烤30分钟,腐蚀或刻蚀掩膜层,按常规方法去掉光刻胶,去离子水清洗完,形成规则的掩膜图形;(3)将步骤(2)制得的衬底利用现有湿法刻蚀技术进行刻蚀,刻蚀完成后,利用氢氟酸溶液去除掩膜,通过丙酮、乙醇,去离子水清洗即得到所需的的蓝宝石图形衬底;(4)将上述制备好的蓝宝石图形衬底通过MOCVD生长GaN,用于制备LED。 |
地址 |
250101 山东省济南市高新区天辰大街1835号 |