| 摘要 |
<p>본 발명은 액정패널의 패드전극과 검사용 구동칩의 출력리드를 간단한 구조로 탄력을 형성하면서 접촉시켜 전기적인 검사를 수행할 수 있는 극 미세피치를 갖는 패널 검사용 프로브유닛에 관한 것으로서, 본 발명의 일 실시형태에 따른 극 미세피치를 갖는 패널 검사용 프로브유닛은 가장자리에 구동칩을 실장하기 위한 복수개의 패드전극이 구비된 액정패널을 전기적으로 검사하기 위한 패널 검사용 프로브유닛으로서, 상기 액정패널을 전기적으로 검사하기 위한 전기신호가 인가되는 연결패턴이 형성된 베이스필름과; 상기 구동칩과 동일한 패턴의 입력리드와 출력리드가 형성되고, 상기 입력리드가 상기 연결패턴에 접촉되도록 상기 베이스필름에 실장되는 검사용 구동칩과; 상기 액정패널의 패드전극과 상기 검사용 구동칩의 출력리드를 연결하기 위하여 상기 검사용 구동칩의 출력리드에 직접 접촉되는 컨택부와; 저면에 상기 검사용 구동칩과 상기 베이스필름이 고정되는 바디블럭을 포함한다.</p> |
