用于平板装置中之周边电路之直接测试;DIRECT TESTING FOR PERIPHERAL CIRCUITS IN FLAT PANEL DEVICES

摘要

本发明揭示一种测试一平板显示器之方法，该平板显示器包含一像素阵列及经组态以将信号提供至该等像素之一周边电路。该方法包含：将至少一个测试信号施加至该周边电路；获取该周边电路之一或多个电压影像；及基于该等所获取电压影像而侦测该周边电路中之一缺陷。