发明名称 |
液晶模组不良信息预先提示方法 |
摘要 |
本发明公开了一种液晶模组不良信息预先提示方法,该方法为上位机通过网络连接图形发生器,用户通过上位机的不良液晶模组提示信息编辑界面编辑不良液晶模组提示信息初始化文件,实现不同液晶模组的不良提示信息提示功能,上位机程序通过解析用户自定义编辑的不良液晶模组提示信息初始化文件,把适合当前液晶模组的不良提示信息提示给用户,不再需要编辑大量的上位机程序内部代码,提高了工作效率。 |
申请公布号 |
CN104766560A |
申请公布日期 |
2015.07.08 |
申请号 |
CN201510187289.7 |
申请日期 |
2015.04.20 |
申请人 |
武汉精测电子技术股份有限公司 |
发明人 |
彭骞;李昂;刘荣华;雷新军;严运思;帅敏;陈凯;沈亚非 |
分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 |
武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
代理人 |
黄行军;李满 |
主权项 |
一种液晶模组不良信息预先提示方法,其特征在于,它包括如下步骤:步骤1:根据待测的各个液晶模组的不良状态在上位机上层应用软件的不良液晶模组提示信息编辑界面中编辑多组不良信息预先提示所需要的信息,每组不良信息预先提示所需要的信息包括测试文件名称信息、过滤字符串信息、起始位置信息、液晶模组不良状态提示信息,编辑完毕后,每组不良信息预先提示所需要的信息保存为一个不良液晶模组提示信息初始化文件,每个不良液晶模组提示信息初始化文件以该不良液晶模组提示信息初始化文件内部的测试文件名称信息为文件名;步骤2:在液晶模组开始测试之前,上位机上层应用软件根据当前液晶模组的液晶面板号对相应的不良液晶模组提示信息初始化文件进行解析,并根据解析的结果给出用户提示;步骤3:根据上位机程序给出的上述用户提示,检查对应的液晶模组不良状态。 |
地址 |
430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼 |