发明名称 | 薄膜检查装置及方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种薄膜检查技术,即,涉及一种用于检查向规定方向移送的薄膜的外观的薄膜检查装置及方法。所述薄膜检查装置具有:支承体;以及与所述支承体相结合,并在向第一轴方向移送的薄膜的下部对所述薄膜进行支承的至少一个支承辊。 | ||
申请公布号 | CN104764751A | 申请公布日期 | 2015.07.08 |
申请号 | CN201410855822.8 | 申请日期 | 2014.12.31 |
申请人 | 东友精细化工有限公司 | 发明人 | 许宰宁;朴宰贤;全柱炳 |
分类号 | G01N21/95(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/95(2006.01)I |
代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 黄志华;石磊 |
主权项 | 一种薄膜检查装置,其特征在于,具有:支承体;以及至少一个支承辊,其与所述支承体相结合,并在向第一轴方向移送的薄膜的下部对所述薄膜进行支承。 | ||
地址 | 韩国全罗北道益山市 |