发明名称 HIERARCHICAL DRAM SENSING
摘要 <p>로컬 비트 라인 쌍과 글로벌 비트 라인 쌍을 이용한 계층적 DRAM 감지 장치 및 방법. 워드 라인이 감지 증폭기들의 클러스터 내의 셀을 선택하며, 감지 증폭기 각각은 한 쌍의 비트 라인과 연관된다. 글로벌 비트 라인 및 글로벌 감지 증폭기에 커플링하기 위해 로컬 비트 라인 중 하나의 로컬 비트 라인이 선택된다. 클러스터는 뱅크를 형성하는 복수의 서브어레이 내에 위치되며, 글로벌 비트 라인은 뱅크 각각으로부터 글로벌 감지 증폭기로 연장된다.</p>
申请公布号 KR101533955(B1) 申请公布日期 2015.07.07
申请号 KR20137016099 申请日期 2011.11.15
申请人 发明人
分类号 G11C11/4091 主分类号 G11C11/4091
代理机构 代理人
主权项
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