发明名称 |
一种半导体突波抑制器封装体结构 |
摘要 |
本发明涉及一种半导体突波抑制器封装体结构,包括第一导电片、第二导电片、突波抑制器、涂覆层、保护层、第一引线和第二引线,所述的突波抑制器为一PN接合型半导体晶粒,其设置在第一导电片和第二导电片中间,且分别与第一导电片和第二导电片以焊锡导电相连接,所述的涂覆层包覆在第一导电片、第二导电片和突波抑制器的外部,而保护层则包覆在涂覆层的外部,涂覆层的厚度小于突波抑制器的长度,而第一引线的一端与第一导电片连接,另一端穿过涂覆层和保护层露在外部,同样所述的第二导线的一端与第二导电片连接,另一端穿过涂覆层和保护层露在外部。本发明散热效果好、成本低、且具有绝缘、防水、耐高温、以及更好的可靠度的特点。 |
申请公布号 |
CN103247582B |
申请公布日期 |
2015.07.01 |
申请号 |
CN201310173151.2 |
申请日期 |
2013.05.10 |
申请人 |
昆山东日半导体有限公司 |
发明人 |
张仓生;郭宗裕;王自强 |
分类号 |
H01L23/31(2006.01)I;H01L25/07(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/31(2006.01)I |
代理机构 |
南京纵横知识产权代理有限公司 32224 |
代理人 |
董建林;郭晓敏 |
主权项 |
一种半导体突波抑制器封装体结构,其特征在于,包括第一导电片、第二导电片、突波抑制器、涂覆层、保护层、第一引线和第二引线,所述的突波抑制器为一PN接合型半导体晶粒,其设置在第一导电片和第二导电片中间,且分别与第一导电片和第二导电片以焊锡导电相连接,所述的涂覆层包覆在所述的第一导电片、第二导电片和突波抑制器的外部,而所述的保护层则包覆在涂覆层的外部,所述的保护层的厚度小于突波抑制器的长度,而所述的第一引线的一端与第一导电片连接,另一端穿过涂覆层和保护层露在外部,同样所述的第二导线的一端与第二导电片连接,另一端穿过涂覆层和保护层露在外部。 |
地址 |
215332 江苏省苏州市昆山市花桥经济开发区花安路1758号 |