发明名称 一种用于测试纳米抗菌薄膜力学性能的装置
摘要 本实用新型公开了一种用于测试纳米抗菌薄膜力学性能的装置,涉及薄膜力学性能测试装置技术领域,包括薄膜放置工作台、探测针尖、压力传感器、信号转化器和数据显示器,所述薄膜放置工作台为立方长方体,剖面为矩形,薄膜放置工作台上方设有弹性凸起,所述凸起剖面圆弧,所述薄膜放置工作台正上方设有探测针尖,所述探测针尖与压力传感器连接,所述压力传感器与信号转化器相连,所述信号转化器与数据显示器相连,本实用新型的有益效果是:通过探测针尖对抗菌薄膜进行测定,由于,薄膜放置工作台上方设有弹性凸起,避免了针尖会因为与薄膜接触过于紧密而刺破抗菌薄膜,通过压力传感器将信号出输给信号转化器,再转化成图像数据形式,准确可靠。
申请公布号 CN204439453U 申请公布日期 2015.07.01
申请号 CN201520120317.9 申请日期 2015.02.28
申请人 安徽松泰包装材料有限公司 发明人 焦国平;齐继业;方兴旺
分类号 G01N3/00(2006.01)I;G01N3/06(2006.01)I 主分类号 G01N3/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种用于测试纳米抗菌薄膜力学性能的装置, 包括薄膜放置工作台、探测针尖、压力传感器、信号转化器和数据显示器,其特征在于,所述薄膜放置工作台为立方长方体,剖面为矩形,薄膜放置工作台上方设有弹性凸起,所述凸起剖面圆弧,所述薄膜放置工作台正上方设有探测针尖,所述探测针尖与压力传感器连接,所述压力传感器与信号转化器相连,所述信号转化器与数据显示器相连。
地址 246000 安徽省安庆市桐城经济开发区龙池北路