发明名称 调控等离子体反应腔室环境的方法
摘要 本发明公开了一种调控等离子体反应腔室环境的方法,包括:在晶圆进入等离子体反应腔室前,在等离子体反应腔室的内壁和位于等离子体反应腔室内部的基片台的表面制备富碳材料涂层;在晶圆在等离子体反应腔室中完成等离子体加工处理并离开等离子体反应腔室后,向等离子体反应腔室中通入第一清洗气体,去除等离子体加工处理过程中吸附在富碳材料涂层表面的反应产物;向等离子体反应腔室中通入第二清洗气体,去除等离子体反应腔室的内壁和基片台表面的富碳材料涂层,使等离子体反应腔室恢复到清洁状态。上述方法在维持了较好的工艺稳定性的同时,能够延长平均清洗时间间隔和零部件的使用寿命。
申请公布号 CN104752142A 申请公布日期 2015.07.01
申请号 CN201310752645.6 申请日期 2013.12.31
申请人 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 发明人 罗巍;符雅丽;陈永远
分类号 H01J37/32(2006.01)I 主分类号 H01J37/32(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 陈振
主权项 一种调控等离子体反应腔室环境的方法,其特征在于,包括以下步骤:在晶圆进入等离子体反应腔室前,在所述等离子体反应腔室的内壁和位于所述等离子体反应腔室内部的基片台的表面制备富碳材料涂层;在所述晶圆在所述等离子体反应腔室中完成等离子体加工处理,并离开所述等离子体反应腔室后,向所述等离子体反应腔室中通入第一清洗气体,去除所述等离子体加工处理过程中吸附在所述富碳材料涂层表面的反应产物;向所述等离子体反应腔室中通入第二清洗气体,去除所述等离子体反应腔室的内壁和所述基片台表面的所述富碳材料涂层,使所述等离子体反应腔室恢复到清洁状态。
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