用于处理源自电离辐射检测器的数据的方法

摘要

本发明涉及用于处理源自电离辐射检测器的数据的方法。在直方图中使通过半导体检测器上的电离辐射的影响所获得的电荷的测量分组。校准和所获得的数据用于获得测量的接受概率，其用于通过加权测量来构建事件的直方图，以排除一些因素(诸如扩散辐射)的影响或者相反地增强该影响。

主权项

一种用于处理源自电磁或电离辐射的半导体检测器的数据的方法，所述检测器具有至少两个偏振电极，所述至少两个偏振电极在所述检测器的所述辐射的交互的影响下产生电信号，每个交互都能够基于对电信号的测量通过至少一个参数来表征，以确定事件的直方图，所述方法包括确定一组接受概率以及根据所述接受概率校正事件的直方图，其特征在于，通过双重校准来获得所述一组接受概率，其中，所述检测器被照射有关于事件的可接受标准不同的辐射，其中，事件X的接受概率P(S/X)根据辐射可接受标准S的概率来确定并等于其中，P(X/S)对应于第一校准中总是具有标准S的辐射的事件X的发生概率，P(S)对应于第二校准中标准S的概率，以及P(X)对应于所述第二校准中事件X的发生的概率。