发明名称 一种成套设备和用于检查导光物品的表面的方法
摘要 本发明涉及一种成套设备和用于检查导光物品的表面的方法。成套设备包括有提供边缘的至少一个端部的导光物品,边缘有端表面和检测在导光物品的壁中或壁上的缺陷的检测装置,检测装置包括:支承所述导光物品的支承件;至少沿方向D发射光的光源;及滤波器,相对于光源定位成阻止光源的光的、至少离开方向D发射或散射的部分,滤波器有至少一个孔,当导光物品布置于支承件上时至少一个孔接收导光物品;支承件相对于光源和滤波器定位成当导光物品布置于支承件上时,边缘的端表面基本垂直于方向D;滤波器包括外壳,当导光物品布置在支承件上时,外壳基本包围光源和边缘,导光物品的并不包括边缘的部分通过孔而伸出外壳,外壳由防止光通过的材料制造。
申请公布号 CN102933955B 申请公布日期 2015.06.24
申请号 CN201180028705.9 申请日期 2011.04.22
申请人 贝克顿迪金森法国公司 发明人 R·魏尔;P·普罗沙斯卡
分类号 G01N21/90(2006.01)I 主分类号 G01N21/90(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 蒋旭荣
主权项 一种成套设备,所述成套设备包括导光物品(2;6;202;206),该导光物品有提供了边缘的至少一个端部,该边缘有端表面(4a;16a;204)和用于检测在该导光物品的壁中或壁上的缺陷的检测装置(1;101;201),所述检测装置(1;101;201)包括至少:支承件(7;108、109、209),该支承件将支承所述导光物品(2;6;202;206);光源(11;111;211),该光源能够至少沿方向D发射光;以及滤波器(13;113;213),该滤波器相对于所述光源定位成阻止所述光源的光的、至少离开所述方向D发射或散射的部分,所述滤波器提供有至少一个孔(15;115;215),当所述导光物品布置于所述支承件上时,该至少一个孔将接收所述导光物品(2;6;202;206);其中,所述支承件相对于所述光源和所述滤波器定位成这样,当所述导光物品布置于所述支承件上时,所述边缘的端表面基本垂直于所述方向D,其中所述滤波器包括外壳(13;113;213),当所述导光物品布置在所述支承件上时,该外壳包围所述光源(11;111;211)和所述边缘,导光物品的、并不包括所述边缘的部分(3;203)通过所述孔(15;115;215)而伸出所述外壳,所述外壳由能够防止光通过的材料制造。
地址 法国勒蓬德克莱克斯