| 发明名称 | ADC芯片特性参数测试精度的测试系统 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种ADC芯片特性参数测试精度的测试系统，包括：与被测ADC芯片的输入端和输出端连接的ATE测试设备，在所述被测ADC芯片的输出端连接一缓冲器，所述缓冲器的输出端与所述ATE测试设备连接。在所述被测ADC芯片的输出端与所述ATE之间连接一缓冲器，提高所述ADC芯片的输出驱动能力，保障所述ADC芯片的输出信号时序和电平的准确性，从而能够得到更加精准的所述ADC芯片的特性测试结果。 | ||
| 申请公布号 | CN104734710A | 申请公布日期 | 2015.06.24 |
| 申请号 | CN201510107533.4 | 申请日期 | 2015.03.11 |
| 申请人 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 发明人 | 邓维维;王华;牛勇;徐惠;郝丹丹;王静 |
| 分类号 | H03M1/10(2006.01)I | 主分类号 | H03M1/10(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 周耀君 |
| 主权项 | 一种ADC芯片特性参数测试精度的测试系统，其特征在于，包括：与被测ADC芯片的输入端和输出端连接的ATE测试设备，在所述被测ADC芯片的输出端连接一缓冲器的输入端，所述缓冲器的输出端与所述ATE测试设备连接。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江郭守敬路351号2号楼2楼 | ||